Autour des capteurs environnementaux: echantillonnage, preparation, protection

17-19 nov. 2014
Auberge du Pastel, Nailloux (Toulouse) - Toulouse (France)

http://stae-ice-epp.sciencesconf.org

L’atelier « Autour des capteurs environnementaux : échantillonnage, préparation, protection», organisé dans le cadre de la fondation « Sciences et Technologies pour l’Aéronautique et l’Espace » (STAE), aura lieu du 17 au 19 Novembre 2014 à Nailloux (Haute-Garonne). Il rassemblera la communauté académique et industrielle intéressée par les problématiques inhérentes aux capteurs environnementaux, classées selon deux axes : • La préparation des échantillons en amont de la détection : prélèvement in situ (échantillonnage) en conditions parfois extrêmes (eg. profondeur), conditionnement (préconcentration, ajout de réactifs, séparation intégrée par microfluidique,…). • La protection contre les agressions du milieu d’immersion : principalement le développement de biofilms et de phénomène de corrosion. L’accent se sera particulièrement mis sur la compréhension de ces phénomènes ainsi que sur les solutions existantes et à venir pour y remédier. Le programme est constitué par des communications orales invitées et sera l'occasion de s'informer et de discuter des verrous, des questions à venir et développements potentiels de ces deux problématiques. Il permettra ainsi d'identifier de nouvelles directions de recherche et de nouveaux projets de collaboration. Afin de faciliter les échanges, tous les participants sont invités à présenter leurs activités dans le domaine au moyen d'affiches, des séances dédiées étant prévues en fin de journée. Pré-programme Pour chacun des axes « préparation des échantillons » et « protection », les aspects suivants seront développés : • Identification des besoins • Technologies existantes • Nouvelles approches Cet atelier se focalisera sur les milieux aqueux dans la perspective du développement de capteurs environnementaux pour les océans et eaux continentales.
Discipline scientifique : Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lieu de la conférence
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